超低比表面与孔径分析仪

厂家 北京理化联科

型号 iPore450

简介：

该仪器采用新的技术突破——背景校准技术，以提高测量的准确性。iPore 450能够测量样品的比表面积，包括BET比表面积、孔体积和孔径分布等参数。它具备全自动背景校准、集成式等量高真空管路、全域恒温控制、气密式一体化填塞棒、分析区域封闭、快紧接口和移出式杜瓦瓶托架等特点。这些功能减少了人员操作误差，克服了仪器环境引起的偏差，使得测试结果有着高重复性和再现性。

特点：

（1）背景校准技术：自动校准背景，尤其对低比表面积样品的BET结果好：基于锂电材料，比表面短期测试重复性0.05%，长期测试重复性0.25%，测试重现性0.5%

（2）三次空管的吸附等温线重合：拥有测试空管背景吸附的能力，准确扣除背景吸附量，从而得到样品比表面的真值

（3）气密式一体化连接：减少人工操作，减少死体积，真空转移样品，杜绝样品再次吸湿的可能；样品管直接插入仪器端口，最大程度简化操作，防止微漏和误差

应用：

（1）锂电材料分析：精确测量电极材料比表面积

（2）催化剂表征：评估催化剂的孔结构和比表面积

（3）吸附剂性能测试：测定吸附剂的吸附能力和孔隙特性

（4）材料研究：用于新材料开发和现有材料改进

（5）质量控制：在生产过程中监控材料质量