原位XAFS表征系统

厂家 北京中研环科

型号 Deep Inspectra X1

简介：

该产品是一款实验室级别的X射线吸收精细结构谱仪系统。该系统采用前沿的Rowland结构设计，使得实验室研究人员能够进行简单、便捷的XAFS测试，实现机时自由。Deep Inspectra X1不仅能够实现匹配各类原位工况实验条件的在线检测功能，同时，得益于原位表征系统内在方法学的建立，能够实现反应过程中原位反应数据的自动采集功能和一键式操作功能，真正意义上解放实验人员的双手。该系统已经成为表征能源存储与转化材料等热点领域的重要手段之一，为探索各类化学反应机理、改善功能材料、设计新型功能材料等提供理论指导。

特点：

（1）可定制：核心部件、原位测试系统均可定制，定制化程度高，配置丰富

（2）自动化操作：原位系统程序化集成度高，配置6位自动样品轮，可远程操作

（3）球面弯曲色器设计：Rowland设计，结构稳定，性能可靠

（4）定制化集成：可配备多种原位样品池i（高温高压/液相气相/电化学）

应用：

（1）能源存储材料：研究材料的电子结构信息

（2）催化反应机理：探索化学反应过程

（3）功能材料设计：设计新型功能材料

（4）纳米材料合成：研究纳米材料的化学环境

（5）化学合成分析：分析化学反应中的结构变化

（6）基础物理研究：研究材料的物理特性

（7）航空航天领域：力学研究和材料性能分析

（8）生物医药领域：生物大分子结构研究