全国咨询热线:13880508240
联系我们

联系人:赖经理
电话:028-61812201
邮箱:scktkm@126.com
地址:四川省成都市武侯区长益路5号杰座1211室

高通量亚微米分辨率三维X射线CT


发布日期:(2025/9/2)   点击次数:42


厂家 SIGRAY

型号 Apex XCT


简介:

美国SIGRAY的Apex XCT是一款高通量亚微米分辨率的三维X射线CT系统,专为半导体封装和故障分析设计。它能在15分钟内对直径达300毫米的样品完成0.5微米空间分辨率的3D成像,且不受样品尺寸限制。该系统采用独特的几何设计,即使在处理大型样品时,也能保持质量的数据采集。

Apex XCT还配备了GigaRecon断层扫描重建软件和Sigray3D采集软件,支持快速数据重建和直观操作。其应用领域包括封装失效分析、逆向工程、晶圆级封装检测以及大型PCB的非破坏性三维分析。


特点

1分析速度快:几分钟内完成亚微米空间分辨率的三位扫描和成像

2易图像分割和缺陷识别:消除传统CT成像的金属条状伪影,可提供清晰的样品横截面识图

3适合大型样品:适合大型板状样品的高分辨无损三维成像


应用

(1)封装失效分析:精准定位封装缺陷,助力质量提升。

(2)逆向工程:快速还原产品设计,加速研发进程。

(3)晶圆级封装检测:确保封装质量,提高产品可靠性。

(4)大型PCB分析:实现非破坏性三维检测,保障电路完整。

(5)材料科学:研究材料内部结构,推动新材料研发。

上一篇:微光显微成像系统 下一篇:单颗粒电化学原位动态成像系统
Copyright © 成都昆泰科技有限公司  版权所有  备案号:蜀ICP备2021000441号-1  技术支持:动力无限
电话:028-61812201  传真:028-61812866  地址:四川省成都市武侯区长益路5号杰座1211室 
咨询热线
13880508240
二维码
扫一扫关注我们